В статье представлено подробное исследование вольтамперных характеристик тонкопленочной структуры m-ферроэлектрик-m {Pt/BaxSr1–xTiO3/Pt (Pt/BST/Pt)}. Термически/электрически-полевая эмиссия барьера Шоттки и Пул–Френкель (ПФ) эмиссия, наряду со смыкани- ем обедненных слоев контактов в центральной области пленки, предложены для интерпретации экспериментальной зависимости I–V. Показано, что как термически/-термически-полевого стимулированная эмиссии барьера Шоттки, так и эмиссия Пула–Френкеля из ловушек, создав вакансии кислорода, могут происходить одновременно. Рассмотре- но влияние электрического поля на эмиссию электронов (дырок) от центров захвата в симметричной тонкопленочной структуре Pt/BST/Pt. Анализ эффекта ПФ показывает, что центры захвата активируются при очень высоких электри- ческих полях, превышающих 105 В/см.