В статье суммированы результаты исследований структуры углеродных наноматериалов методом спектроскопии комбинационного рассеяния (КР). В результате проведенных исследований установлено, что расстояния между дефектами в графитах находятся в диапазоне 26…43 нм, углеродных многостенных углеродных нанотрубок (МУНТ) - 12…16 нм и саж 11…15 нм. Показано, что для КР-спектров высококачественных графитов и графенов характерны узкая G-полоса (ширина менее < 35 см–1), соотношение интенсивностей I(D)/I(G)) < 0,3. Для КР-спектров углеродных нанотрубок характерны широкие G-полосы (ширина > 50 см-1), высокое соотношение I(D)/I(G) (> 0,5) и наличие 2D-полос с положением максимума около 2670 см–1. Для КР-спектров саж характерно сильно уширенная G-полоса (ширина > 70 см-1), соотношение I(D)/I(G) близко к 1 и более. Наличие, положение и ширина 2D-полос чувствительны к структурам углеродных материалов. Для упорядоченных графитов положение максимума 2D-полос составляет порядка 2680 см–1, а их ширина менее < 85 см-1. Для МУНТ максимум 2D-полосы находится в диапазоне 2670…2690 см-1, а ширина полосы порядка 90…100 см-1. На КР-спектрах саж 2D-полоса может отсутствовать; положение максимума может быть смещено в длинноволновую или коротковолновую области, 2D-полоса сильно уширена (ширина > 150 см-1).